方塊電阻測試儀 電阻測試儀 測試儀 型號:GSZ-ST-20
方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
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錐入度儀 型號:HA-WZR
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第12年